QTJT-D 系列是青銅劍專為IGBT/SiC動態(tài)性能測試而開發(fā)的一款專業(yè)設(shè)備，可進(jìn)行IGBT/SiC器件的單管、模塊、IPM/功率模組的動態(tài)參數(shù)測試。 系統(tǒng)主要由設(shè)備主機(jī)（控制模塊、高壓電源、可調(diào)負(fù)載電感、充放電模塊、配電模塊等）、示波器及探頭、 測試工裝等組成?？蛇M(jìn)行多模塊并聯(lián)均流測試、雙脈沖動態(tài)測試、RBSOA安全工作區(qū)測試、一類/二類短路測試等。
完美的低溫制冷方案，溫控范圍-45℃~250℃；匹配多種防冷凝措施，防止低溫測試過程中冷凝水的產(chǎn)生，確保測試安全。
可手動或自動校準(zhǔn)，方便測試使用；基于硬件方式的相位校準(zhǔn)方案，更精準(zhǔn)，更可靠。
專業(yè)定制設(shè)計(jì)，完美匹配被測件的低感電容及疊層母排設(shè)計(jì)，提供完美的SiC低感測試工裝。
多工況自動測試， 一鍵導(dǎo)出測試報(bào)告，可選格式及測試項(xiàng)
智能軟件算法、精準(zhǔn)卡點(diǎn)，準(zhǔn)確度高、一致性強(qiáng)
可根據(jù)用戶檢測功能靈活定制，更適合使用
測試電壓10~1700V/10~6500V
測試電流(峰值)20~6000A(10000A,10μs)
雜散電感<10nH(需特殊定制,僅測試工裝雜感)
門極電阻手動調(diào)整0~100Ω(可選配自動調(diào)整)
門極電壓調(diào)節(jié)范圍負(fù)壓:-15V-0V,正壓:0V~+25V
門極電壓精度±0.1V
脈沖信號形式單/雙脈沖、多脈沖
脈沖信號寬度0.1μs~1000μs,分辨率0.02μs,精度±0.1μs
負(fù)載電感10μH/50μH.../1000μH,8檔自動可調(diào)，精度±59;可選配置
遠(yuǎn)程通訊LAN/USB
溫控裝置溫度控制范圍:常溫~200%C,精度±2%C:可選配低溫測試、溫度范圍等
安全防護(hù)過流過壓保護(hù)，防觸電漏電保護(hù)，高壓互鎖，快速放電，三色警示燈，急停等
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